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公司基本資料信息
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加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過改進光路設計，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升，易于操作，元素分析更快速。
研究樣品時，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產(chǎn)生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是完全集成設計在飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 系統(tǒng)中。
Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實現(xiàn)多點分析，檢測樣品的元素組分。此外，該軟件還可以擴展到元素分析線面掃（mapping）功能。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導出分析數(shù)據(jù)。
Phenom ProX 主要技術參數(shù)
| 電子放大 | 高 350,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 6 nm |
| 光學導航相機 | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào) |
| 真空模式 | 標準模式 降低荷電效應模式 |
| 探測器 | 背散射電子探測器 |
| 樣品尺寸 | 大直徑 32 mm |
| 樣品高度 | 高 100 mm |
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