PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
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PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
詳細信息 主要特點
* 閉環(huán)式掃描器, 定位精準, 誤差小于1nm
* 具有兩種掃描器可選用, 第一種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器
* Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的專利, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優(yōu)點. 對于公用實驗室與需要量測大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是最佳選擇
* 可配置環(huán)境控制箱, 可控制環(huán)境的溫度, 濕度與通氣氛等強大功能
* 可選配電學模式, 導電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度最高可達700攝氏度), 加熱樣品臺, 液體池.
* Nano-Rp是美國太平洋納米科技公司專門為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括:
全新NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像
Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
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